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光學(xué)測量顯微鏡如何測得被測物體?

更新時間:2022-04-19      點擊次數(shù):2471
  光學(xué)測量顯微鏡是一種基礎(chǔ)的精密光學(xué)測量儀器。采用透、反射的方式對工件長度和角度作精密測量。工作臺除作X、Y坐標的移動外,還可以作360度的旋轉(zhuǎn),是一種理想的固定場所小型精密測量儀器。
  光學(xué)測量顯微鏡的測量步驟如下:
  1、工作距調(diào)整:可根據(jù)被測物體的厚度,擰松支柱套上的固緊手輪,按需要升降支架,合適后固緊手輪,并檢將輔助支承座緊座緊靠支柱套后固緊。
  2、目距調(diào)整:用雙手稍扳動左右普柔棱鏡座來改變目距,以適于雙眼觀察。
  3、焦距調(diào)整:轉(zhuǎn)動升降手輪,使儀器頭部上下移動。當觀察物像出現(xiàn)后,輕微轉(zhuǎn)動,直到右眼的像較清晰為止。
  4、視度調(diào)節(jié):旋轉(zhuǎn)左目鏡上的視度調(diào)節(jié)圈,使左眼的像與右眼的像同樣清晰。
  倍率的調(diào)整:本儀器設(shè)計有二種不同的倍數(shù),轉(zhuǎn)換變倍輪以改變倍數(shù)。
  5、測量:
  (1)用X軸( 或Y軸)對準被測物邊緣,使X軸(或Y軸)與被告測物的外邊緣相外切;
  (2)記錄測微頭的數(shù)據(jù);
  (3)移動X軸(或Y軸)與被測物內(nèi)邊緣相內(nèi)切,這時再記錄測微頭的數(shù)據(jù),將移動后的數(shù)據(jù)減移動前的數(shù)據(jù)即是我們所測的數(shù)。
  該設(shè)備主要運用于錄像磁頭、大規(guī)模集成電路線寬以及其它精密零件的測試??蓮V泛用于電子行業(yè)和細小精密零件檢測、裝配、修理;印刷線路板,印刷絲網(wǎng)板的檢定,還可以用于生物解剖和珠寶鑒定等。
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